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在自关断器件GTR、GTO、电力MOSFET、IGBT中,可能因静电积累损坏的器件是()。

A.
GTR、IGBT

B.
GTO、电力MOSFET

C.
GTR、GTO、

D.
电力MOSFET、IGBT

答案是:

D.
电力MOSFET、IGBT
出自  文才  >  西安理工大学电力电子技术

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本题添加时间:2023/4/3 12:59:00